使用SpyGlass进行早期RTL可测试性和ATPG覆盖率分析：案例研究
SNUG India 2016
2016
31 页
使用SpyGlass进行早期RTL可测试性和ATPG覆盖率分析
作者: Preethi Ashok Kumar, Mudasir Kawoosa, Rajesh Mittal, Texas Instruments, SNUG India 2016
议程
- 背景 - 动机 - 详尽的DRC分析以实现早期设计收敛（在RTL级解决后ATPG违规） - 最小化RTL到网表级覆盖率差异 - 固定型和跳变故障覆盖率分析（高效的RTL级无向量覆盖率分析，避免ATPG期间的覆盖率调试） - 结果 - 结论
背景
传统DFT 可测试性设计 DRC方法学：扫描插入期间的基本时钟和复位检查；详尽的DRC分析。
图片索引
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